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中子儀是一種利用中子與物質(zhì)相互作用特性來分析物質(zhì)成分、結(jié)構(gòu)或檢測特定參數(shù)的儀器,廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、地質(zhì)、環(huán)境、工業(yè)等領(lǐng)域。以下從工作原理、重要技術(shù)指標(biāo)和應(yīng)用場景三方面進(jìn)行詳細(xì)解析:一、中子儀的工作原理中子儀的核心是通過“中子源產(chǎn)生中子→中子與...
一、工作原理區(qū)域輻射監(jiān)測系統(tǒng)通過分布式傳感器網(wǎng)絡(luò)實(shí)時(shí)采集環(huán)境中的電離輻射信號(如γ射線、X射線等),經(jīng)信號轉(zhuǎn)換(將輻射粒子信號轉(zhuǎn)為電信號)、數(shù)據(jù)預(yù)處理后,通過有線/無線通信傳輸至中心控制平臺,平臺對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析、閾值比對和異常報(bào)警,最終實(shí)現(xiàn)對區(qū)域內(nèi)輻射水平的實(shí)時(shí)監(jiān)控、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與可視化展示。二、核心應(yīng)用場景-核設(shè)施周邊:如核電站、核反應(yīng)堆、核廢料處理廠等,監(jiān)測正常運(yùn)行及事故狀態(tài)下的輻射泄漏,保障周邊環(huán)境與人員安全。-環(huán)境保護(hù)領(lǐng)域:對自然保護(hù)區(qū)、水源地、土壤等區(qū)域進(jìn)行常態(tài)化輻射本...
熱釋光劑量系統(tǒng)是一種用于測量輻射劑量的先進(jìn)技術(shù),其主要由熱釋光儀、熱釋光脈沖發(fā)生器、數(shù)字電路板電源盒等組成,另外配套含有熱釋光劑量讀出器、退火爐、熱釋光個(gè)人劑量計(jì)等設(shè)備。這些組件共同協(xié)作,實(shí)現(xiàn)對輻射劑量的精確測量。其工作原理基于熱釋光現(xiàn)象。當(dāng)固體材料(如磷光體)受到射線照射后,會(huì)吸收并儲(chǔ)存射線能量。在隨后的加熱過程中,這些儲(chǔ)存的能量會(huì)以光的形式釋放出來,形成熱釋光。通過測量熱釋光的強(qiáng)度,可以推算出樣品所接受的輻射劑量。為確保其測量精度和長期穩(wěn)定性,定期維護(hù)保養(yǎng)至關(guān)重要。以下是...
Xγ輻射檢測儀的核心技術(shù)參數(shù)決定其檢測能力和適用場景,以下是關(guān)鍵參數(shù)及說明:1.探測射線類型-核心檢測對象:X射線、γ射線(部分型號可擴(kuò)展檢測β射線),需明確是否支持多種射線同時(shí)或切換檢測。2.探測效率-衡量探測器對射線的捕捉能力,通常以特定能量射線(如13?Cs的662keVγ射線)為基準(zhǔn),常見指標(biāo)為≥30%(碘化鈉探測器)或≥80%(高純鍺探測器,精度更高但成本也高),效率越高,低劑量輻射下響應(yīng)越靈敏。3.能量響應(yīng)范圍-決定可檢測射線的能量區(qū)間,主流范圍為20keV-3M...
放射性薄層掃描儀是一種結(jié)合了核技術(shù)與色譜分離原理的分析儀器,主要用于檢測和定量樣品中具有放射性標(biāo)記的物質(zhì)分布。以下是其核心技術(shù)特點(diǎn)及優(yōu)勢的詳細(xì)解讀:一、放射性薄層掃描儀工作原理與基礎(chǔ)架構(gòu):1.核素示蹤技術(shù)融合通過引入放射性同位素標(biāo)記目標(biāo)分子,利用其衰變時(shí)發(fā)射的射線進(jìn)行實(shí)時(shí)追蹤。與傳統(tǒng)熒光或紫外檢測器不同,該設(shè)備直接探測輻射信號,無需樣品具備光學(xué)活性,特別適用于復(fù)雜基質(zhì)中痕量成分的分析。2.高精度定位系統(tǒng)采用微米級精度的二維移動(dòng)平臺搭載蓋革-米勒計(jì)數(shù)管或半導(dǎo)體探測器陣列,實(shí)現(xiàn)對...
薄層掃描儀是一種用于薄層色譜(TLC)定量檢測分析的專業(yè)儀器,通過光吸收或熒光強(qiáng)度檢測物質(zhì)含量,廣泛應(yīng)用于化學(xué)、藥學(xué)、中藥指紋圖譜及生物醫(yī)藥等領(lǐng)域。是利用光電管或光電倍增管,將通過或反射自薄層板斑點(diǎn)的光束強(qiáng)度轉(zhuǎn)化為電信號,通過測量電信號與斑點(diǎn)吸收光強(qiáng)的關(guān)系實(shí)現(xiàn)定量分析。其典型掃描方式包括單波長、雙波長及十波長掃描,其中雙波長鋸齒掃描通過交替使用兩個(gè)不同波長的光束,可有效消除薄層板不均勻?qū)е碌恼`差,使分析誤差控制在3%以內(nèi)。該儀器波長范圍覆蓋190-800nm,支持反射、熒光等...